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艾克矿石金矿银矿铁矿成分分析矿石开采手持式XRF光谱矿石分析仪

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艾克矿石金矿银矿铁矿成分分析矿石开采手持式XRF光谱矿石分析仪

品牌:艾克/I-CHEQ

产地:广东

型号:FAST系列

样本: 下载

400-616-7676转2221

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核心参数

应用场景
手持/便携式
仪器种类
常规型
行业专用类型
有色金属
元素分析范围
Mg~Pu
分析含量范围
1-99.99%
能量分辨率
120-130
重复性
0.1%
探测器
高灵敏度 Si-Pin/ SDD探测器;

仪器介绍

2代机详图 .png

i-CHEQ X™ 手持式XRF光谱仪

精准 · 无损 · 便携 · 快速 · 超高分析精度

核心优势

  • 轻便设计:体积小、重量轻,方便携带
  • 快速分析:高速处理芯片,分析速度更快
  • 电阻触屏:工业级电阻屏,优异背光性能
  • 自定义报告:用户可自定义创建专业报告
  • 高新技术:内置DOUBLEBEAM T技术
  • 网络互联:支持互联网远程设置与检修

应用领域

  • 合金分析:现场检测 · 快速分类
  • 矿石检测:矿山勘察 · 岩心监测
  • 地球化学:快速检测土壤重金属(PPM级)
  • ROHS检测:快消品、电子产品等有害物质检测

产品解析

  1. 一键式开机电源按键
  2. 散热器
  3. 检测指示灯
  4. 用户界面触摸屏
  5. 光谱浏览键
  6. 电池保护套
  7. 测试窗口
  8. 测试板机

产品参数

重量 基本重量不超过1.4kg
尺寸 300mm×90mm×220mm(长宽高)
激发源 大功率高性能X射线管;
靶材:5种可选择金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta)、钯(Pd);
电压:35kV(电压不可变)/50kV(可变电压)
滤波器 多种滤波器可选择,根据不同的被检测物自动调节
探测器 高灵敏度 Si-Pin/ SDD探测器;(解析度≤135eV)
探测器制冷温度 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35℃
标准片 外置316标准片/窗口保护盖
处理器 SAMSUNG800MHz高性能处理器
操作系统 Microsoft WindowsCE系统
数据处理 8G大容量数据存储卡;≥40000组数据及光谱图
数据分析 搭载专业智能分析软件,具有智能化、速度快、操作简单等优点;
整个分析过程仅需数秒便可完成
数据显示 精确到百分比(%)显示,光谱或峰强度(计数率)或用户定的单位
数据传输 手机4G、共享热点、WiFi与手机APP进行数据传输
显示屏 彩色,高分辨率3.5寸TFT工业级触摸屏,任何光线条件下清晰可见;
大图标图形界面
外形设计 一体化机身设计,坚固、防水防尘及防冻,有效防振,适应潮湿或低温等野外环境使用
安全操作 一触式“扳机”,软件具有自锁和防空测等保护功能
分析元素 Mg、Al、Si、P、S、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、
Rb、Sr、Zr、Co、V、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba、K、Ca、Ti、W、Hf、
Ta、Re、Bi、Zr、Se、Nb、Pd、Ru、Ir、Pt、Au、Rh等元素
测试环境条件 温度-20~+40℃,湿度<80%RH

一键式开机 · 一键式检测

一键式防呆操作,去除复杂的操作选项,有效防止人为误操作

  • 快速:快速检测
  • 便携:轻巧便携
  • 精准:精度可达0.0001

权威认证

荣获多项专业证书,包括实用新型专利证书、ISO 9001质量管理体系认证、高新技术企业证书等。

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