在X射线荧光（XRF）分析中，基体效应是影响测量精度的重要因素。本文综述了基体效应的产生原因及其对分析结果的影响，并详细介绍了多种克服或校正基体效应的方法，包括经验影响系数法、基本参数法和理论影响系数法等。此外，文中还探讨了样品的物理化学状态如粒度和表面效应等因素对荧光强度的影响。通过这些方法和技术的应用，可以显著提高XRF分析的准确性和可靠性。